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可靠性交易

英文名称:Ieee Transactions On Reliability   国际简称:IEEE T RELIAB
《Ieee Transactions On Reliability》杂志由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版社出版,本刊创刊于1963年,发行周期Quarterly,每期杂志都汇聚了全球计算机科学领域的最新研究成果,包括原创论文、综述文章、研究快报等多种形式,内容涵盖了计算机科学的各个方面,为读者提供了全面而深入的学术视野,为计算机科学-COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE事业的进步提供了有力的支撑。
中科院分区
计算机科学
大类学科
0018-9529
ISSN
1558-1721
E-ISSN
预计审稿速度: 约4.5个月
杂志简介 期刊指数 WOS分区 中科院分区 CiteScore 学术指标 高引用文章

可靠性交易杂志简介

出版商:Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
出版语言:English
TOP期刊:
出版地区:UNITED STATES
是否预警:

是否OA:未开放

出版周期:Quarterly
出版年份:1963
中文名称:可靠性交易

可靠性交易(国际简称IEEE T RELIAB,英文名称Ieee Transactions On Reliability)是一本未开放获取(OA)国际期刊,自1963年创刊以来,始终站在计算机科学研究的前沿。该期刊致力于发表在计算机科学领域各个方面达到最高科学标准和具有重要性的研究成果。全面反映该学科的发展趋势,为计算机科学事业的进步提供了有力的支撑。期刊严格遵循职业道德标准,对于任何形式的抄袭行为,无论是文字还是图形,一旦查实,均可能导致稿件被拒绝。

近年来,来自CHINA MAINLAND、USA、England、Canada、France、Brazil、Italy、Singapore、Iran、Taiwan等国家和地区的研究者在《Ieee Transactions On Reliability》上发表了大量的高质量文章。该期刊内容丰富,包括原创研究、综述文章、专题观点、论文预览、专家意见等多种类型,旨在为全球该领域研究者提供广泛的学术交流平台和灵感来源。

在过去几年中,该期刊保持了稳定的发文量和综述量,具体数据如下:

2014年:发表文章73篇、2015年:发表文章113篇、2016年:发表文章149篇、2017年:发表文章100篇、2018年:发表文章103篇、2019年:发表文章100篇、2020年:发表文章96篇、2021年:发表文章177篇、2022年:发表文章145篇、2023年:发表文章132篇。这些数据反映了期刊在全球计算机科学领域的影响力和活跃度,同时也展示了其作为学术界和工业界研究人员首选资源的地位。《Ieee Transactions On Reliability》将继续致力于推动计算机科学领域的知识传播和科学进步,为全球计算机科学问题的解决贡献力量。

期刊指数

  • 影响因子:5
  • 文章自引率:0.0847...
  • Gold OA文章占比:16.74%
  • CiteScore:12.2
  • 年发文量:132
  • 开源占比:0.0455
  • SJR指数:1.511
  • H-index:86
  • SNIP指数:1.989
  • 出版国人文章占比:0.38

WOS期刊SCI分区(2023-2024年最新版)

按JIF指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE SCIE Q1 8 / 59

87.3%

学科:COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING SCIE Q1 13 / 131

90.5%

学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 65 / 352

81.7%

按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE SCIE Q1 7 / 59

88.98%

学科:COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING SCIE Q1 14 / 131

89.69%

学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 42 / 354

88.28%

中科院分区表

中科院SCI期刊分区 2023年12月升级版
Top期刊 综述期刊 大类学科 小类学科
计算机科学 2区
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 计算机:硬件 COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING 计算机:软件工程 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气
2区 2区 2区

CiteScore(2024年最新版)

CiteScore 排名
CiteScore SJR SNIP CiteScore 排名
12.2 1.511 1.989
学科类别 分区 排名 百分位
大类:Engineering 小类:Safety, Risk, Reliability and Quality Q1 7 / 207

96%

大类:Engineering 小类:Electrical and Electronic Engineering Q1 57 / 797

92%

学术指标分析

影响因子和CiteScore
自引率

影响因子:指某一期刊的文章在特定年份或时期被引用的频率,是衡量学术期刊影响力的一个重要指标。影响因子越高,代表着期刊的影响力越大 。

CiteScore:该值越高,代表该期刊的论文受到更多其他学者的引用,因此该期刊的影响力也越高。

自引率:是衡量期刊质量和影响力的重要指标之一。通过计算期刊被自身引用的次数与总被引次数的比例,可以反映期刊对于自身研究内容的重视程度以及内部引用的情况。

年发文量:是衡量期刊活跃度和研究产出能力的重要指标,年发文量较多的期刊可能拥有更广泛的读者群体和更高的学术声誉,从而吸引更多的优质稿件。

期刊互引关系
序号 引用他刊情况 引用次数
1 IEEE T RELIAB 320
2 RELIAB ENG SYST SAFE 181
3 IEEE T SOFTWARE ENG 73
4 EUR J OPER RES 58
5 IEEE T POWER SYST 47
6 TECHNOMETRICS 47
7 IEEE T COMPUT 36
8 MECH SYST SIGNAL PR 32
9 INFORM SOFTWARE TECH 29
10 J SYST SOFTWARE 29
序号 被他刊引用情况 引用次数
1 RELIAB ENG SYST SAFE 568
2 IEEE ACCESS 527
3 IEEE T RELIAB 320
4 QUAL RELIAB ENG INT 165
5 P I MECH ENG O-J RIS 155
6 APPL STOCH MODEL BUS 83
7 COMPUT IND ENG 76
8 COMMUN STAT-THEOR M 66
9 APPL MATH MODEL 64
10 MECH SYST SIGNAL PR 58

高引用文章

  • Failure Mode and Effect Analysis in a Linguistic Context: A Consensus-Based Multiattribute Group Decision-Making Approach引用次数:23
  • Optimal Maintenance Design-Oriented Nonprobabilistic Reliability Methodology for Existing Structures Under Static and Dynamic Mixed Uncertainties引用次数:19
  • Reliable Control of Discrete-Time Piecewise-Affine Time-Delay Systems via Output Feedback引用次数:19
  • Failure Mode and Effects Analysis by Using the House of Reliability-Based Rough VIKOR Approach引用次数:18
  • Multisensor Fault Diagnosis Modeling Based on the Evidence Theory引用次数:17
  • Cross-Project and Within-Project Semisupervised Software Defect Prediction: A Unified Approach引用次数:17
  • Reliability Modeling and Analysis of Load-Sharing Systems With Continuously Degrading Components引用次数:16
  • Uncertainty Analysis of Transmission Line End-of-Life Failure Model for Bulk Electric System Reliability Studies引用次数:16
  • Analyzing and Increasing the Reliability of Convolutional Neural Networks on GPUs引用次数:16
  • A Hybrid Approach to Cutting Tool Remaining Useful Life Prediction Based on the Wiener Process引用次数:14
若用户需要出版服务,请联系出版商:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。